Milano – Il blitz alle spalle e la fuga, fallita. Due stranieri – un 18enne cittadino tunisino e un 20enne del Congo, entrambi con precedenti – sono stati arrestati martedì pomeriggio a Milano con l’accusa di tentata rapina aggravata in concorso dopo aver cercato di derubare un 16enne italiano.
Il raid dei due è scattato verso le 14 sulla banchina della metro gialla di Duomo, in pieno centro città. Lì, sorprendendelo da dietro, i rapinatori hanno aggredito il giovane minacciandolo con un coltello e un martelletto frangivetro rubato proprio su uno dei vagoni per portargli via il cellulare.
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La reazione del 16enne ha costretto alla fuga i due, che sono saliti a bordo della metro nel tentativo di allontanarsi. Gli agenti della Polmetro, subito allertati dalla vittima, sono però riusciti a individuare la via di fuga del 18enne e del 20enne grazie alle immagini registrate dalle telecamere di video sorveglianza della stazione.
Così all’arrivo nel capolinea di San Donato, gli aggressori – entrambi residenti in provincia di Pavia – sono stati fermati e arrestati. Addosso a uno di loro i poliziotti hanno trovato anche la lama e il martelletto utilizzati per il tentativo di rapina. www.milanotoday.it
